DAシンポジウム 2019
プログラム
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8月28日(水)
13:00-13:10開会
A会場
13:10-14:101A: 招待講演
A会場
14:25-15:252A: 招待講演
A会場
15:40-16:553A: 回路設計・評価1
A会場
3B: ビアスイッチFPGA
B会場
17:10-18:004A: イジングモデル
A会場
4B: 配置配線
B会場
8月29日(木)
8月30日(金)
9:00-9:5011A: タイミング解析
A会場
11B: 論理暗号化手法
B会場
10:00-11:0012A: 招待講演
A会場
11:15-12:3013A: テスト
A会場
13B: 信頼性2
B会場
12:30-12:40閉会
A会場
プログラム詳細
8月28日(水)
[12:00-] 受付
[13:00-13:10] 開会
[13:10-14:10]セッション1A 招待講演
座長:田宮 豊 (富士通研究所)
(1A-1)
深層学習モデルの高速なTraining/InferenceのためのHW/SW技術
金子紘也(Preferred Networks)
[14:25-15:25]セッション2A 招待講演
座長:橋本 昌宜 (大阪大学)
(2A-1)
EDA分野におけるラボオンチップの最適設計に関する研究
山下茂(立命館大学)
[15:40-16:55]セッション3A 回路設計・評価1
座長:岸田 亮 (東京理科大学)
(3A-1)
オンチップの高分解能周波数発振器を用いた可変周波数動作による実回路のディレイ測定手法
島村光太郎、池田尚弘(日立製作所)
(3A-2)
FiCCを用いたCMOS互換な不揮発性メモリ素子の閾値電圧特性の測定ならびに読み出し方式検討
田中一平、宮川尚之、木村知也、今川隆司、越智裕之(立命館大学)
(3A-3)
バンドギャップ基準電源回路を対象としたBIST手法の評価
猪岡柚香、橘昌良(高知工科大学)
[15:40-16:55]セッション3B ビアスイッチFPGA
座長:小林 悠記 (NEC)
(3B-1)
RC Extraction-free Wiring Delay Analysis Focusing on Number of On-state Switches for Via-switch FPGA
Yuyang Sun、Ryutaro Doi、Masanori Hashimoto (Osaka University)
(3B-2)
ビアスイッチFPGAの部分的再構成における書き換えスイッチ数の最小化
土井龍太郎、劉載勲、橋本昌宜(大阪大学)
(3B-3)
先端微細加工プロセスで実現するビアスイッチFPGAの性能解析
荒木佑介、松田崇史、塩見準、小野寺秀俊(京都大学)
[17:10-18:00]セッション4A イジングモデル
座長:マチュー パリジ (富士通研究所)
(4A-1)
量子アニーリングエミュレータのためのデータ構造
植田圭、戸川望、木村晋二(早稲田大学)
(4A-2)
低密度パリティ検査符号復号問題を制約なし二次形式二値変数最適化問題に変換した解法
多和田雅師、田中宗、戸川望(早稲田大学)
[17:10-18:00]セッション4B 配置配線
座長:TBD (TBD)
(4B-1)
配置配線パズルにおける求解アルゴリズム
甘利拓斗、蓮見平八郎、藤吉邦洋(東京農工大)
(4B-2)
超伝導高速単一磁束量子(RSFQ)回路のタイミング調節のための配線長予約を用いた概略配線手法
北村圭、高木直史(京都大学)、高木一義(三重大学)
8月29日(木)
[9:15-10:40]セッション5A 特別セッション(ハードウェアセキュリティ)
座長:今井 雅 (弘前大学)
(5A-1)
ハードウェアセキュリティ技術・暗号技術の社会実装における課題
国井裕樹、伊達浩行、伊藤忠彦(セコム株式会社IS研究所)
(5A-2)
位数4の有理点を用いたCurve25519に対するサイドチャネル攻撃に関する考察
谷田翔吾、上竹嘉紀、小椋央都、日下卓也、籠谷裕人、野上保之(岡山大学)
(5A-3)
軽量暗号の耐タンパ実装とその評価
野崎佑典、吉川雅弥(名城大学)
[10:55-11:45]セッション6A ナノフォトニクス
座長:中村 祐一 (NEC)
(6A-1)
波長分割多重を用いたブース法に基づく光並列乗算器の構成手法
今井悠貴、塩見凖(京都大学)、石原亨(名古屋大学)、小野寺秀俊(京都大学)、新家昭彦、納富雅也(NTT)
(6A-2)
二分決定グラフに基づく光論理回路の消費電力削減手法
松尾亮祐、塩見凖、小野寺秀俊(京都大学)、石原亨(名古屋大学)、新家昭彦、納富雅也(NTT)
[10:55-11:45]セッション6B Hotspot検出・異常検知
座長:新田 泉 (富士通研究所)
(6B-1)
スリープ状態をもつ組込みシステムを対象とした電力解析にもとづく異常動作検知とその実証的評価
長谷川健人(早稲田大学)、近松聖(キーサイト)、戸川望(早稲田大学)
(6B-2)
CCASを用いた局所特徴量に基づくリソグラフィホットスポット検出器の検討
高橋秀和、佐藤真平、高橋篤司(東京工業大学)
[11:45-12:15]セッション7A 企業デモ展示プレゼンテーション
座長:細田 浩希 (ソニーLSIデザイン)
(D-1)
東京エレクトロンデバイス株式会社
展示内容: 三重富士通株式会社のシャトルサービスをご案内致します。お使い頂けるテクノロジはCMOS40nmと55nmで、各テクノロジとも年間4便を運行しております。皆様のご研究にお役立てください。
(D-2)
富士通アドバンストテクノロジ株式会社
展示内容: 富士通では、AI技術を組み込んだ製品開発(設計)環境の構築に取り組んでいます。取り組みの一つとして物理シミュレータを高速・高精度なAIシミュレータに変換するAI技術・基盤を開発しました。本展示では、熱流体シミュレーションにAIシミュレータ基盤を適用した事例の紹介を予定しています。
(D-3)
株式会社イーツリーズ・ジャパン
展示内容: IoTや画像処理をターゲットにした小型のFPGAボードexStickGEおよび、RTL実装によるネットワークプロトコルスタックや画像処理IPコアをビルディングブロックとして活用したシステム設計事例をご紹介します。
(D-4)
アヴネット株式会社/株式会社エー・ディ・ティ
展示内容: アヴネットはUSのアリゾナに本社を構える、グローバル半導体商社です。今回はXILINX社のFPGAを中心とした製品・ソリューションの紹介をいたします。XILINX社製のFPGAを搭載した学習用小型FPGAボードからDeep Learningのデモを含めた大規模ボードを展示致します。
(D-5)
株式会社Preferred Networks
展示内容: 深層学習の実応用のための計算機インフラ及びそれを支えるハードウェア/ソフトウェア技術について弊社の取り組みを紹介します。
(D-6)
NEC(兵庫県立大学、名古屋大学)
展示内容: 既存のAI向けのフレームワークにより設計したネットワークを入力として、量子化等を行いCNN推論のハードウェアとそのハードウェアを制御するソフトウェアを自動生成する設計ツールフローを展示します。
[13:15-14:45]セッション8A アルゴリズムデザインコンテスト
(8A-1)
とりあえずおいてはんせいするほうほう
和田邦彦、大和田真由、山本克治、堀本遊、佐藤真平、高橋篤司(東京工業大学)
(8A-2)
配置配線のためのアンサンブルソルバシステム
西澤誠人、石川遼太、長谷川健人、川村一志、多和田雅師、戸川望(早稲田大学)
(8A-3)
配置配線パズルにおける求解アルゴリズム
甘利拓斗、蓮見平八郎、藤吉邦洋(東京農工大学)
(8A-4)
SATソルバを用いた配置配線手法
南周作、松永裕介(九州大学)
[13:15-14:45]セッション8C ポスターセッション
(8C-1)
FiCCを用いたCMOS互換な不揮発性メモリ素子の閾値電圧特性の測定ならびに読み出し方式検討
田中一平、宮川尚之、木村知也、今川隆司、越智裕之(立命館大学)
(8C-2)
バンドギャップ基準電源回路を対象としたBIST手法の評価
猪岡柚香、橘昌良(高知工科大学)
(8C-3)
CCASを用いた局所特徴量に基づくリソグラフィホットスポット検出器の検討
高橋秀和、佐藤真平、高橋篤司(東京工業大学)
(8C-4)
環境変動を打ち消し経年劣化の電圧依存性を観測するリングオシレータの提案
小高孔頌、岸田亮(東京理科大学)、小林和淑(京都工芸繊維大学)、兵庫明(東京理科大学)
(8C-5)
環境変動を打ち消すリングオシレータを用いた経年劣化の温度依存性評価
足助拓哉、中野洋希(京都工芸繊維大学)、岸田亮(東京理科大学)、古田潤、小林和淑(京都工芸繊維大学)
(8C-6)
デバイスモデルの静特性の合わせこみによるソフトエラー耐性の評価と実測結果との比較
森風馬、榎原光則、小島健太郎、古田潤、小林和淑(京都工芸繊維大学)
(8C-7)
Nauta OTAを用いた二次ΔΣ変調回路の設計と評価
上村大輔、橘昌良(高知工科大学)
(8C-8)
Partial MaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア割当て法
三澤健一郎、平間勇貫、細川利典、山崎紘史(日本大学)、吉村正義(京都産業大学)、新井雅之(日本大学)
(8C-9)
ばらつきキャンセルによるTSVオープン故障検出の診断性能向上
蜂屋孝太郎(帝京平成大学)、黒川敦(弘前大学)
(8C-10)
有機薄膜トランジスタのバイアス・ストレス劣化に関する実測と検討
大島國弘、齋藤成晃(京都大学)、新谷道広(NAIST)、栗原一徳、小笠原泰弘(AIST)、佐藤高史(京都大学)
(8C-11)
入力ダイナミックレンジを拡張した有線通信用レシーバ回路の設計開発
青山晃大、岩田達哉、吉河武文(富山県立大学)
(8C-12)
形状自在計算機システムのためのRISC-VホストCPUチップの設計
門本淳一郎、入江英嗣、坂井修一(東京大学)
(8C-13)
A Process-Scheduler-Based Approach to Minimum Energy Point Tracking
Shengyu Liu、Jun Shiomi (Kyoto University)、Tohru Ishihara (Nagoya University)、Hidetoshi Onodera (Kyoto University)
[15:05-16:05]セッション9A 招待講演
座長:若林 一敏 (NEC)
(9A-1)
ドメイン固有言語とコンパイラ技術を用いた専用ハードウェア開発
丸岡晃(フィックスターズ)
[16:20-18:00]セッション10A 回路設計・評価2
座長:TBD (TBD)
(10A-1)
SAT Based Formulation of Automatic Generation of Parallel Computing from Specification
Gao Ruitao、Amir Masoud Gharehbaghi、Tomohiro Maruoka、Masahiro Fujita (東京大学)
(10A-2)
ニューラルネットワークFPGA 実装のための積和演算設計手法
松永多苗子(日本文理大学)、松永裕介(九州大学)
(10A-3)
Nauta OTAを用いた二次ΔΣ変調回路の設計と評価
上村大輔、橘昌良(高知工科大学)
(10A-4)
挿入操作に基づく並列プレフィックス加算器の手続き的構成
金子峰雄(JAIST)
[16:20-18:00]セッション10B 信頼性1
座長:塩見 準 (京都大学)
(10B-1)
環境変動を打ち消し経年劣化の電圧依存性を観測するリングオシレータの提案
小高孔頌、岸田亮(東京理科大学)、小林和淑(京都工芸繊維大学)、兵庫明(東京理科大学)
(10B-2)
環境変動を打ち消すリングオシレータを用いた経年劣化の温度依存性評価
足助拓哉、中野洋希(京都工芸繊維大学)、岸田亮(東京理科大学)、古田潤、小林和淑(京都工芸繊維大学)
(10B-3)
デバイスシミュレーションを用いたFDSOIプロセスにおけるラッチ構造の違いによるソフトエラー耐性の基板電圧依存性の評価
小島健太郎、古田潤、小林和淑(京都工芸繊維大学)
(10B-4)
デバイスモデルの静特性の合わせこみによるソフトエラー耐性の評価と実測結果との比較
森風馬、榎原光則、小島健太郎、古田潤、小林和淑(京都工芸繊維大学)
8月30日(金)
[9:00-9:50]セッション11A タイミング解析
座長:佐藤 高史 (京都大学)
(11A-1)
ポストレイアウトシミュレーションのためのSPFファイル縮小化に関する一考察
米田友洋(NII)
(11A-2)
広範囲な電圧領域で動作するフリップフロップのタイミング特性モデル
内田翼、塩見準(京都大学)、石原亨(名古屋大学)、小野寺秀俊(京都大学)
[9:00-9:50]セッション11B 論理暗号化手法
座長:今井 雅 (弘前大学)
(11B-1)
RTLにおけるコントローラの論理暗号化手法
吉村正義(京都産業大学)、橋立英実、辻川敦也、細川利典(日本大学)
(11B-2)
誤り修正論理合成を用いた論理暗号化手法
松永裕介(九州大学)
[10:00-11:00]セッション12A 招待講演
座長:吉河 武文 (富山県立大学)
(12A-1)
高速インターフェース規格の変遷と実装回路技術の特徴、及び車載向けLSIへのソフトエラー対策の必要性
小松義英(パナソニック デバイスシステムテクノ)
[11:15-12:30]セッション13A テスト
座長:TBD (TBD)
(13A-1)
Partial MaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア割当て法
三澤健一郎、平間勇貫、細川利典、山崎紘史(日本大学)、吉村正義(京都産業大学)、新井雅之(日本大学)
(13A-2)
Automatic Test Pattern Generation for Functional Fault
劉雨航、ガラバギ アミル マスード、藤田昌宏(東京大学)
(13A-3)
ばらつきキャンセルによるTSVオープン故障検出の診断性能向上
蜂屋孝太郎(帝京平成大学)、黒川敦(弘前大学)
[11:15-12:30]セッション13B 信頼性2
座長:TBD (TBD)
(13B-1)
電流スターブ型リングオシレータを用いたアンテナダメージと経年劣化によるしきい値電圧変動量の比較
岸田亮、小高孔頌(東京理科大学)、小林和淑(京都工芸繊維大学)
(13B-2)
有機薄膜トランジスタのバイアス・ストレス劣化に関する実測と検討
大島國弘、齋藤成晃(京都大学)、新谷道広(NAIST)、栗原一徳、小笠原泰弘(AIST)、佐藤高史(京都大学)
(13B-3)
P/Nウェル電圧を独立に制御可能なDLL型基板電圧生成回路
永井健太郎、塩見準、小野寺秀俊(京都大学
[12:30-12:40] 閉会